首页
 我的订单   |我的无忧   | 收藏夹   |微信公众号   |联系我们

搜索

  检测需求发布


全部分类 
首页 检测服务 实验室 检测需求 微测APP 新闻资讯 城市加盟 招贤纳士
首页 > 新闻资讯 >详情

上新啦!「让科研更简单」米格实验室推出新“神器”
来源:无忧快测        2020-04-20 15:25:07        阅读:6374
 1 次

       为回馈各院校实验室、第三方检测机构对无忧快测平台的支持与帮助,平台近期开展“实验室巡礼”活动,通过无忧快测的微信公众号免费为机构/实验室做一期推广宣传。
       如果您的机构或实验室有推广需求,欢迎与我们联系,我们将有专业人员与您对接具体事项。

 

本期要为大家推介的是一家拥有中国科学院背景
深耕材料和半导体领域的研发、检测与技术解决方案
已为高校和企业客户解决5000多次研发检测需求
拥有350+核心专家团队的国家高新技术企业——


       米格实验室是一个基于互联网+,面向实体企业、面向材料和半导体领域研发、检测与技术解决方案的服务平台,在电镜检测技术、聚焦离子束技术、(光、质、色、波)谱分析、成分分析、可靠性与失效分析等方面优势突出,形成了自身特有的一套技术矩阵体系,为近千家用户解决了产品研发方面的问题。

       公司以新材料和半导体芯片行业为重点发展领域,与国内的研发团队合作,针对产业的需求定制研发解决方案,逐步形成自有的技术服务体系,实现科技知识成果与产业需求之间的无缝转化。

       目前合作实验室已达350家,包括中科院半导体所、中科院物理所、中科院微电子所、北京有色院、中国航发、清华、北大、中电58所及子公司、航天9院、中船725所、工信部CSIP、海军701研究所、国家电网等。


本期米格实验室还带来了全新升级的新“神器”——
聚焦离子束-电子束双束系统FIB-SEM FEI Scios 2 DualBeam
创新的工作流模式,将更大程度地降低操作员的难度
真正实现“让科研更简单”的战略理念
究竟有多厉害?赶快了解一下吧~

 


聚焦离子束-电子束双束系统FIB-SEM FEI Scios 2 DualBeam

设备简介

       FEI Scios 2 DualBeam系统在Scios系统的基础上进行了升级,更加适用于金属、复合材料和涂层,特点是适用磁性样品、借助漂移抑制对不导电的样品可以进行操作、Trinity检测套件可同步检测材料、形态和边缘对比对度,大大提高效率、软件可以实现三维数据立方体分析金属中夹杂物大小和分布、独有的工作流模式,可以设定程序,降低操作员的难度。在超大样品仓中集成了大尺寸的五轴电动样品台,XY轴具有110mm移动范围,Z方向具有85mm升降空间。


技术指标

1.电子束电流范围:1 pA - 400 nA;
2.电子束电压:200eV-30 keV,具有减速模式
3.电子束分辨率:0.7 nm (30 keV)、1.4 nm(1 keV)
4.大束流Sidewinder离子镜筒;
5.离子束加速电压500V-30kV(分辨率:3.0 nm);
6.离子束束流1.5pA-65nA,15孔光阑。

配置情况

1.GIS气体注入:Pt沉积;
2.Easylift纳米机械手(精度<500nm);
3.ETD SE、T1(筒内低位)、T(高位)探头;
4.Nav-camTM:样品室内光学导航相机;
5.AutoTEM4、Autoslice、Map for3D自动拼图、NanoBuilder纳米加工软件。

适用样品

       半导体、金属、陶瓷材料截面加工及透射样品制备。


预约&收费标准
       FIB-SEM FEI Scios 2 DualBeam 已在无忧微测正式上线,感兴趣的朋友可以点击链接,查看更多关于仪器设备租用详情。

点击链接:FIB-SEM FEI Scios 2 DualBeam

按项目检索  :
  • 精选实验室,品牌服务
  • 平台担保,安全交易
  • 7*12客服,快速响应
  • 微测VLab,躺盈赚钱
微信二维码
新浪微博


发布需求
错误信息!
错误信息!
错误信息!
错误信息!
承接需求
错误信息!
错误信息!